Wikipedia

Khác biệt giữa bản sửa đổi của “Kiểm soát chất lượng phòng xét nghiệm”

Duyệt lịch sử tương tác
← Thay đổi trướcThay đổi sau →
Nội dung được xóa Nội dung được thêm vào
Trực quanMã wiki
Không có tóm lược sửa đổi
Không có tóm lược sửa đổi
Dòng 2:
 
==Giải thích==
Sự diễn giải của dữ liệu kiểm soát chất lượng bao gồm phương pháp đồ thị và phương pháp thống kê. Dữ liệu kiểm soát chất lượng dễ hình dung nhất khi sử dụng '''đồ thị Levey-Jennings''' [[Levey-Jennings]]. Các ngày tiến hành phân tích được hiển thị trên trục X và các kết quả kiểm soát được hiển thị trên trục Y. Giá trị trung bình (mean), và các giá trị độ lệch chuẩn (standard deviation – SD): 1SD, 2SD, và 3SD được hiển thị trên trục Y. Quan sát tương quan của các giá trị đã đưa lên đồ thị cung cấp một cách thức đơn giản để phát hiện các lỗi ngẫu nhiên và sự thay đổi hoặc xu hướng sai số trong quy trình chuẩn. <ref>.Grant, E.L. and R.S. Leavenworth (1988). "Thống kê kiểm soát chất lượng", xuất bản lần thứ 6, McGraw-Hill Book Company. (tiếng Anh: "Statistical Quality Control").</ref>
 
==Đồ thị kiểm soát==
Đồ thị kiểm soát: là sự tập hợp dữ liệu thống kê cho việc nghiên cứu về mức độ biến đổi của quy trình sản xuất nhằm mục đích nâng cao hiệu quả kinh tế của quy trình. Các phương pháp này dựa trên việc giám sát liên tục sự biến đổi của quy trình. Đồ thị kiểm soát còn được biết đến là ''''[[đồ thị Shewhart]]' hay '[[đồ thị quy trình chạy máy]]'''' là một công cụ thống kê dùng để đánh giá tính biến đổi trong một quy trình và làm đơn giản hoá công việc dự báo và quản lý. Đồ thị kiểm soát là dạng đặc hiệu hơn của đồ thị chạy. Đồ thị kiểm soát là một trong bảy công cụ cơ bản của kiểm soát chất lượng, bao gồm: biểu đồ cột, biểu đồ kết hợp đường và cột (pareto chart), bảng ghi chép, đồ thị kiểm soát, sơ đồ nguyên nhân và kết quả, biểu đồ tiến trình, và biểu đồ phân tán. Đồ thị kiểm soát giúp tránh những điều chỉnh không cần thiết trong quy trình; cung cấp thông tin về hiệu suất của quy trình; cung cấp thông tin chẩn đoán và là một kỹ thuật đã được kiểm chứng cho việc nâng cao năng suất.
 
==Đồ thị Levey–Jennings==
Đồ thị Levey-Jennings là đồ thị mà trong đó dữ liệu [[kiểm soát chất lượng]] được vẽ lên để đưa ra đánh giá hữu hình xem liệu một xét nghiệm nào đó có tốt không. Khoảng cách từ giá trị trung bình được đo bằng đơn vị độ lệch chuẩn (SD). Thuật ngữ này được sử dụng sau khi S. Levey và E. R. Jennings, năm 1950, đề xuất sử dụng [[đồ thị kiểm soát các cá thể của Shewhart]] trong phòng xét nghiệm y học. Trên trục X hiển thị thông tin ngày và thời gian, hoặc thường gặp hơn, là số lần chạy kiểm soát. Điểm A được vẽ để đánh giá khoảng cách từ kết quả thực tế tới giá trị trung bình (là giá trị mong muốn của mẫu kiểm chuẩn). Đường nối các giá trị kết quả này đi qua đường giá trị trung bình, và cũng có thể là đường 1SD, 2SD, và đôi khi là 3SD ở một trong hai phía của đường giá trị trung bình. Điều này cho phép dễ dàng quan sát xem kết quả chính xác tới mức nào.▼
[[File:Levy-Jennings SampleChart.png|thumb|right|300px|Một ví dụ của đồ thị Levey – Jennings, trong đó các giới hạn trên và giới hạn dưới lần lượt là 1SD và 2SD.]]
▲Đồ thị Levey-Jennings là đồ thị mà trong đó dữ liệu [[kiểm soát chất lượng]] được vẽ lên để đưa ra đánh giá hữu hình xem liệu một xét nghiệm nào đó có tốt không. Khoảng cách từ giá trị trung bình được đo bằng đơn vị độ lệch chuẩn (SD). Thuật ngữ này được sử dụng sau khi S. Levey và E. R. Jennings, năm 1950, đề xuất sử dụng [[đồ thị kiểm soát các cá thể của Shewhart]] trong phòng xét nghiệm y học. Trên trục X hiển thị thông tin ngày và thời gian, hoặc thường gặp hơn, là số lần chạy kiểm soát. Điểm A được vẽ để đánh giá khoảng cách từ kết quả thực tế tới giá trị trung bình (là giá trị mong muốn của mẫu kiểm chuẩn). Đường nối các giá trị kết quả này đi qua đường giá trị trung bình, và cũng có thể là đường 1SD, 2SD, và đôi khi là 3SD ở một trong hai phía của đường giá trị trung bình. Điều này cho phép dễ dàng quan sát xem kết quả chính xác tới mức nào.
 
Các nguyên tắc, chẳng hạn như [[nguyên tắc Westgard]], có thể được áp dụng để đánh giá xem kết quả của các mẫu bệnh phẩm sau khi đã tiến hành chạy kiểm chuẩn liệu có thể được công bố, hay cần phải chạy lại. Công thức trong nguyên tắc Westgard dựa trên các phương pháp thống kê.
 
Nguyên tắc Westgard thường được dùng để phân tích dữ liệu trong đồ thị kiểm soát Shewhart. Nguyên tắc Westgard được ứng dụng để xác định các giới hạn biểu thị đặc hiệu cho một phân tích cụ thể và có thể dùng để phát hiện các lỗi hệ thống và lỗi ngẫu nhiên. Nguyên tắc Westgard được lập trình trong các máy xét nghiệm tự động để đánh giá khi nào thì một phân tích nên bị loại trừ. Các nguyên tắc này cần được áp dụng cẩn trọng để các lỗi thực sự sẽ được phát hiện trong khi những sự loại trừ nhầm lẫn được hạn chế tối thiểu. Nguyên tắc được áp dụng cho các dòng máy sinh hoá và huyết học đời cao phải đưa ra những đánh giá loại trừ nhầm lẫn với tỷ lệ thấp.<ref>Westgard, J.O., P.L. Barry, and M.R. Hunt (1981). "Đồ thị Shewhart đa nguyên tắc dùng cho kiểm soát chất lượng trong Hoá học lâm sàng”, phần 27, trang 493-501. (tiếng Anh: ” A Multi-rule Shewhart Chart for Quality Control in Clinical Chemistry”)</ref> <ref>Westgard, J.O., P.L. Barry (1986). "Kiểm soát hiệu quả kinh tế: Quản lý chất lượng và năng suất của các quy trình xét nghiệm", xuất bản bởi AACC. (tiếng Anh: ” Cost-Effective Quality Control: Managing the Quality and Productivity of Analytical Processes”)</ref>
 
Đồ thị Levey-Jennings khác với [[đồ thị kiểm soát các cá thể của Shewhart]] trong việc đánh giá chỉ số sigma, tức độ lệch chuẩn. Đồ thị Levey-Jennings sử dụng đánh giá dài hạn (như: dân số) của chỉ số sigma trong khi đó đồ thị Shewhart lại sử dụng đánh giá ngắn hạn (như: trong phạm vi nhóm con tỉ lệ).
 
==Xem thêm==
Dịch từ bài viết tiếng Anh "Laboratory quality control" tại http://en.wikipedia.org/wiki/Laboratory_quality_control#cite_note-4
* [[Kiểm soát chất lượng]]
* [[Đảm bảo chất lượng]]
* [[Đánh giá chất lượng]]
 
==Tham khảo và đọc thêm==
Lấy từ “https://vi.wikipedia.org/wiki/Kiểm_soát_chất_lượng_phòng_xét_nghiệm”