Khác biệt giữa bản sửa đổi của “Kính hiển vi điện tử quét”

'''Kính hiển vi điện tử quét''' ([[tiếng Anh]]: '''''Scanning Electron Microscope''''', thường viết tắt là ''SEM''), là một loại [[kính hiển vi]] điện tử có thể tạo ra ảnh với độ phân giải cao của bề mặt mẫu vật bằng cách sử dụng một chùm [[điện tử]] (chùm các electron) hẹp quét trên bề mặt mẫu. Việc tạo ảnh của mẫu vật được thực hiện thông qua việc ghi nhận và phân tích các bức xạ phát ra từ tương tác của chùm điện tử với bề mặt mẫu vật.