Wikipedia

Khác biệt giữa bản sửa đổi của “Kính hiển vi điện tử quét”

Duyệt lịch sử tương tác
← Thay đổi trướcThay đổi sau →
Nội dung được xóa Nội dung được thêm vào
Trực quanMã wiki
Không có tóm lược sửa đổi
Dòng 13:
* Phân tích phổ tia X (X-ray microanalysis): Tương tác giữa điện tử với vật chất có thể sản sinh phổ tia X đặc trưng, rất hữu ích cho phân tích thành phần hóa học của vật liệu. Các phép phân tích có thể là [[phổ tán sắc năng lượng tia X]] (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy - EDXS) hay [[phổ tán sắc bước sóng]] tia X (Wavelength Dispersive X-ray Spectroscopy - WDXS)...
* Một số kính hiển vi điện tử quét hoạt động ở chân không siêu cao có thể phân tích phổ điện tử Auger, rất hữu ích cho các phân tích tinh tế bề mặt.
* '''''[[SEMPA]]''''' (''[[Kính hiển vi điện tử quét vớicó phân tích phân cực]]'' [[tiếng Anh]]: ''Scanning Electron Microscopy with Polarisation Analysis'') là một chế độ ghi ảnh của SEM mà ở đó, các điện tử thứ cấp phát ra từ mẫu sẽ được ghi nhận nhờ một detector đặc biệt có thể tách các điện tử phân cực [[spin]] từ mẫu, do đó cho phép chụp lại ảnh [[vách đômen|cấu trúc từ]] của mẫu.
 
==Ưu điểm của kính hiển vi điện tử quét==
Lấy từ “https://vi.wikipedia.org/wiki/Kính_hiển_vi_điện_tử_quét”