Khác biệt giữa các bản “Kính hiển vi lực từ”

[[Hình:MFM1.PNG|nhỏ|phải|300px|Ảnh chụp [[kính hiển vi điện tử|hiển vi điện tử]] mũi dò của MFM]]'''Kính hiển vi lực từ''' ([[tiếng Anh]]: '''''Magnetic Force Microscope''''', thường viết tắt là '''''MFM''''') là một loại [[kính hiển vi]] thuộc nhóm [[Kính hiển vi quét đầu dò|kính hiển vi quét đầu dò (SPM)]], được sử dụng để xây dựng hình ảnh sự phân bố của tính chất từ trên bề mặt vật rắn dựa trên việc ghi nhận lực tương tác ([[lực từ]]) giữa mũi dò từ tính với bề mặt của mẫu.
==Nguyên lý hoạt động==
Về mặt nguyên lý, MFM hoạt động tương tự như [[Kính hiển vi lực nguyên tử|AFM]]. Mũi dò quét trên bề mặt mẫu được sử dụng là [[sắt từ|vật liệu từ tính]] khi quét trên bề mặt mẫu sẽ có sự tương tác với các thành phần từ tính trên bề mặt, qua đó vẽ bản đồ phân bố các thành phần từ tính bề mặt, mà cụ thể ở đây là [[đômen từ|cấu trúc đômen]] của vật rắn<ref>[http://www.sciencedirect.com/science?_ob=ArticleURL&_udi=B6TJJ-46G62NK-17R&_user=6291618&_origUdi=B6TJJ-3V7S9C9-H&_fmt=high&_coverDate=02%2F28%2F1991&_rdoc=1&_orig=article&_acct=C000009999&_version=1&_urlVersion=0&_userid=6291618&md5=469e032e995ebb369b80353a697f0a94 C. Schoenenberger and S. F. Alvarado, ''Magnetic force microscopy and its application to longitudinal thin films'', J. Magn. Magn. Mater. 93 (1991) 123-127]</ref>.
 
Lực tương tác từ giữa mũi dò và bề mặt vật rắn được xác định bởi<ref>[http://www.sciencedirect.com/science?_ob=ArticleURL&_udi=B6TJJ-3V7S9C9-H&_user=10&_coverDate=12%2F01%2F1998&_alid=661030238&_rdoc=1&_fmt=full&_orig=search&_cdi=5312&_sort=d&_docanchor=&view=c&_ct=1&_acct=C000050221&_version=1&_urlVersion=0&_userid=10&md5=818b5b41d1b002ef18f91dc7cefaed5f Leon Abelmann et al. ''Comparing the resolution of magnetic force microscopes using the CAMST reference samples'' J. Magn. Magn. Mater. 190 (1990) 135-147]</ref>: