Khác biệt giữa bản sửa đổi của “Kính hiển vi quang học quét trường gần”

Nội dung được xóa Nội dung được thêm vào
Dòng 17:
===Ưu, Nhược điểm của NSOM và ứng dụng===
* Kính hiển vi quang học quét trường gần có khả năng ghi ảnh với độ phân giải rất cao, có thể lên tới 20 - 50 nm (ngang - x,y) và khoảng 2 - 5 nm (đứng - z). Do đó, NSOM khá hữu dụng trong nghiên cứu chiều cao của mẫu vật, đặc biệt quan trọng trong công nghiệp bán dẫn. Hơn nữa, độ phân giải này thoát khỏi sự hạn chế do giới hạn nhiễu xạ gây ra ở các kính trường xa, do đó chỉ phụ thuộc vào kích thước khẩu độ và bước quét của mũi dò.
[[Tập tin:Fig5.jpeg|nhỏ|ảnh chụp của NSOM ở ba chế độ khác nhau]]
* Khả năng ghi lại các phổ: phổ lực, phổ Raman... với độ chính xác cao.
* Có khả năng ghi ảnh topo (topography) của bề mặt mẫu nhằm phân biệt sự phân bố các thành tố của mẫu vật.