Khác biệt giữa bản sửa đổi của “Kính hiển vi quét xuyên hầm”

'''Kính hiển vi quét chui hầm''' ([[tiếng Anh]]: ''Scanning tunneling microscope'', viết tắt là '''''STM''''') là một loại [[kính hiển vi]] phi [[quang học]], được sử dụng để quan sát hình thái học bề mặt của vật rắn hoạt động dựa trên việc ghi lại dòng [[Đường hầm lượng tử|chui hầm]] của [[electron|điện tử]] khi sử dụng một mũi dò quét trên bề mặt mẫu. STM là một công cụ mạnh để quan sát cấu trúc bề mặt của vật rắn với độ phân giải tới cấp độ [[nguyên tử]]. STM lần đầu được phát minh năm 1981 và hai nhà phát minh ra thiết bị này là [[Gerd Binnig]] và [[Heinrich Rohrer]] ([[IBM]], [[Zürich]]) đã giành [[giải Nobel Vật lý]] năm 1986 cho phát minh này.

STM là thiết bị quan sát vi cấu trúc bề mặt thuộc về nhóm thiết bị [[kính hiển vi quét đầu dò]], tức là việc ghi ảnh dựa trên nguyên tắc quét đầu dò trên bề mặt. STM sử dụng một mũi dò nhọn mà đầu của mũi dò có kích thước là một [[nguyên tử]], quét rất gần bề mặt mẫu. Khi đầu dò được quét trên bề mặt mẫu, sẽ xuất hiện các [[electron|điện tử]] di chuyển từ bề mặt mẫu sang mũi dò do [[Đường hầm lượng tử|hiệu ứng chui hầm lượng tử]] và việc ghi lại dòng chui hầm (do một [[điện thế|hiệu điện thế]] đặt giữa mũi dò và mẫu) này sẽ cho các thông tin về cấu trúc bề mặt.