Khác biệt giữa bản sửa đổi của “Kính hiển vi lực từ”
Nội dung được xóa Nội dung được thêm vào
n Robot: Sửa đổi hướng |
|||
Dòng 1:
[[Tập tin:MFM1.PNG|nhỏ|phải|300px|Ảnh chụp [[kính hiển vi điện tử|hiển vi điện tử]] mũi dò của MFM]]'''Kính hiển vi lực từ''' ([[tiếng Anh]]: '''''Magnetic Force Microscope''''', thường viết tắt là '''''MFM''''') là một loại [[kính hiển vi]] thuộc nhóm [[Kính hiển vi quét đầu dò|kính hiển vi quét đầu dò (SPM)]], được sử dụng để xây dựng hình ảnh sự phân bố của tính chất từ trên bề mặt vật rắn dựa trên việc ghi nhận lực tương tác ([[tương tác điện từ|lực từ]]) giữa mũi dò từ tính với bề mặt của mẫu.
==Nguyên lý hoạt động==
Về mặt nguyên lý, MFM hoạt động tương tự như [[Kính hiển vi lực nguyên tử|AFM]]. Mũi dò quét trên bề mặt mẫu được sử dụng là [[sắt từ|vật liệu từ tính]] khi quét trên bề mặt mẫu sẽ có sự tương tác với các thành phần từ tính trên bề mặt, qua đó vẽ bản đồ phân bố các thành phần từ tính bề mặt, mà cụ thể ở đây là [[đômen từ|cấu trúc đômen]] của vật rắn<ref>[http://www.sciencedirect.com/science?_ob=ArticleURL&_udi=B6TJJ-46G62NK-17R&_user=6291618&_origUdi=B6TJJ-3V7S9C9-H&_fmt=high&_coverDate=02%2F28%2F1991&_rdoc=1&_orig=article&_acct=C000009999&_version=1&_urlVersion=0&_userid=6291618&md5=469e032e995ebb369b80353a697f0a94 C. Schoenenberger and S. F. Alvarado, ''Magnetic force microscopy and its application to longitudinal thin films'', J. Magn. Magn. Mater. 93 (1991) 123-127]</ref>.
Dòng 11:
<math>F'_z = - \mu_0 \int M_{z tip} \frac{\partial^2 H_{z sample}}{\partial z^2} dV</math>
với <math>M_{z tip}, H_{z sample}</math> lần lượt là thành phần theo trục z của [[độ từ hóa]] của mũi dò, và [[từ trường|cường độ từ trường]] tại bề mặt mẫu vật. [[Tập tin:MFM2.PNG|nhỏ|phải|500px|Ảnh chụp phân bố [[đômen từ]] của bề mặt [[ổ đĩa cứng|ổ cứng]], sự tương phản ở đây là tương phản về tính chất từ]]
==Ưu điểm và hạn chế==
| |||